技能训练1 门电路逻辑功能的测试
1.实践目标
(1)了解逻辑芯片逻辑功能验证的基本方法。
(2)了解万用表的基本使用方法。
2.测试方法
进行门电路逻辑功能的测试,首先要设计产生高、低电平的输入电路,如图1-19所示的电路可达到此目标。当开关SA打开时,输出端电压为0V;当开关闭合后,输出端电压为VDD。
我们可以选择任一逻辑门芯片进行逻辑功能的测试,这里选择四输入与非门芯片74LS20进行测试(若无74LS20芯片可用74HC20芯片代替。如果条件许可,可以一半学生用74LS20,一半学生用74HC20,两种芯片的区别请阅读本章的“课外阅读2”部分),测试使用“数电实验箱”,本书所涉及实践环境介绍见“附录D实践环境”。
图1-19 电平输入电路
测试芯片时只需选择一组与非门进行。如图1-20所示为74LS20逻辑功能测试电路,测试芯片前首先要连接好芯片的“电源”(14号脚)和“地”(7号脚),再把选中的与非门的输入端分别接到如图1-19所示的电平输入电路上或实验箱开关电路的输出插孔,与非门的输出端则利用发光二极管来指示状态。从图1-20可以看到,输出端经限流电阻接发光二极管的阳极,发光二极管的阴极接地。因此,当输出端为高电平时,发光二极管正向导通发光;当输出端为低电平时,发光二极管因正向压降太低而不亮。
图1-20 74LS20逻辑功能测试电路
如果要求在开关闭合时产生“1”到“0”的电平变化,图1-19的电路应如何调整?
3.测试数据
1)真值表
利用开关顺次改变输入端A1、B1、C1、D1的逻辑电平,把开关闭合视为逻辑“1”,把开关打开视为逻辑“0”,观察输出端所接发光二极管的状态。把发光二极管亮视为逻辑“1”,把发光二极管不亮视为逻辑“0”。将测试结果记入表1-6中。
按照与非门的逻辑关系推导一下,你的与非门是好的吗?
表1-6 与非门的真值表
2)输出电压的测量
使用万用表分别测量发光二极管亮时的输出端Y1的电压(即UOH)和发光二极管不亮时的输出端Y1的电压(即UOL),记录下来:UOH=____V;UOL=____V。
在本章“课外阅读2”部分,你可以了解到74LS20和74HC20两种芯片的部分技术指标,对其中的UOHmin、UOLmax和UIHmin、UILmax之间的关系有什么想法?结合高、低电平的概念和门电路的前后级想想看。在数字电路的分析过程中,逻辑芯片的管脚图、逻辑功能表、基本技术指标是我们要面对的问题,因此,我们要学会如何去查找并阅读芯片资料。